DSpace О системе DSpace
 

IRZSMU >
Кафедри >
Кафедра оториноларингології >
Наукові праці. (Оториноларингологія) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/4693

Название: Частота розвитку гострого середнього отиту у дітей різних вікових груп на тлі ГРВІ
Авторы: Шляпіна, А. С.
Ключевые слова: тези
Дата публикации: 2016
Издатель: Буковинський державний медичний університет
Библиографическое описание: Шляпіна А. С. Частота розвитку гострого середнього отиту у дітей різних вікових груп на тлі ГРВІ : [матеріали III Міжнар. мед.-фармац. конгресу студентів і молодих вчених] / А. С. Шляпіна ; [наук. керівник - к.мед.н. Лобова О. В.] // ХИСТ. – 2016. – Вип. 18. – С. 341.
Описание: Актуальність: запалення слизової оболонки носа і носоглотки (гострий ринофарингіт) виникає на тлі ГРВІ, є найбільш частою причиною гострого запалення середнього вуха. Гострий середній отит (ГСО) у дітей протікає важче і виникає частіше, ніж у дорослих, так як в ранньому віці є ряд особливостей, які можуть обтяжувати перебіг захворювання. До них відносяться: широкі, горизонтально розташовані слухові труби; наявність міксоідної тканини (пухка, студениста сполучна тканина з малою кількістю кровоносних судин), що є сприятливим середовищем для розвитку мікроорганізмів в порожнині середнього вуха; барабанна перетинка товстіша ніж у дорослих і має округлу форму. За даними ВООЗ в структурі зверненнями в дитячу поліклініку, ЛОР патологія становить 52,3% (2014 року). Мета: визначити частоту розвитку ГСО у дітей різних вікових груп на тлі ГРВІ.
URI: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/4693
Располагается в коллекциях:Студентське наукове товариство: статті, доповіді, тези
Наукові праці. (Оториноларингологія)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
KHYST-2016_341.pdf214,91 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь